「第4回サンプリングモアレ法による構造物の計測技術に関する研究会」


日時:2017年10月14日(土) 9:30~17:15
場所: 上野・いいオフィス 3F(上野駅・徒歩2分)(アクセス https://iioffice.liginc.co.jp/access
参加費:一般2000円,主催・後援団体所属1000円,学生無料
主催:日本実験力学会光学的手法分科会,全空間画像計測コンソーシアム
後援:産業技術総合研究所


プログラム:
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多くの方に参加いただき,装置デモもあり,活発に意見交換を行うことができました.
ご参加・ご協力いただきました皆様,どうもありがとうございました.
・参加者数:34名
・参加機関:企業18(20名),行政1(1名),大学・研究機関6(13名)



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